真空衰减法检漏仪

    标准机构 ASTM 制定了详细说明大多数 CCIT 方法的文件，以帮助制造商制定合规的测试策略。虽然 ASTM 标准不是法律规定的，但它们被认为符合监管要求。他们还向审计员保证测试是按照标准化/批准的方法进行的。MLT-V100（T） 微泄漏无损密封测试仪是根据标准《ASTM F2338 包装泄露的标准检测方法—真空衰减法》研发的一款专业用于医药包装，食品包装微泄漏检测的专业设备。

     大多数概率测试都是破坏性的，这意味着样品不能重复使用，从而产生大量的产品损失、浪费和混乱。概率方法也是定性的，产生的结果取决于技术、样品制备和操作员的可变性，这使得它们既耗时又不可靠。因为大多数确定性测试可以是非破坏性的，它们可以随着时间的推移重复进行，以提供样品泄漏率的定量测量，因为它们不会使容器内通常昂贵的产品无法使用。它们也较少受人为错误的影响，因为它们使用经过验证的测试设备来获得客观的泄漏测量值。

     新 USP 指南的发布表明了对确定性、非破坏性方法的明显偏好。确定性测试是真空衰减、压力衰减、基于激光的顶空分析、HVLD 和示踪气体分析。

     随着仿制药医学指令 (FMD)的生效，实现序列化的要求进一步推动了采用确定性方法。投资于跟踪和追溯系统的制药公司希望能够确定批次中的单个包装是否经过泄漏测试，以便在召回时可以获得这些数据。

   今天针对以上常用的真空衰减法测试仪MLT-V100我们来做个简单的介绍！

    MLT-V100（T） 微泄漏无损密封测试仪采用真空无损测试方案，扩展为正负压双测量法，双传感器、双腔测试技术，基于WINDOWS系统开发，可适用于各种空的/预充式注射器，水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、以及其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。

负压法测试：

连接真空泵提供气源动力，制造标准腔和测试腔同等压力环境，通过检测测试腔在负压环境下的压力变化，判断试样的泄漏特性。

正压法测试：

连接压缩空寂提供气源动力，制造标准腔和测试腔同等压力环境，通过检测测试腔在正压环境下的压力变化，判断试样的泄漏特性。